射線探傷radiography testing RT
是利用射線穿透物體來發(fā)現(xiàn)物體內(nèi)部缺陷的探傷方法。
射線能使膠片感光或激發(fā)某些材料發(fā)出熒光。射線在穿透物體過程中按一定的規(guī)律衰減，利用衰減程度與射線感光或激發(fā)熒光的關(guān)系可檢查物體內(nèi)部的缺陷。
射線探傷分為X射線探傷、γ射線探傷、高能射線探傷和中子射線探傷。
射線對(duì)人體是有害的。探傷作業(yè)時(shí)，應(yīng)遵守有關(guān)安全操作規(guī)程，應(yīng)采取必要的防護(hù)措施。
X射線探傷裝置的工作電壓高達(dá)數(shù)萬伏乃至數(shù)十萬伏，作業(yè)時(shí)應(yīng)注意高壓的危險(xiǎn)。
射線探傷(x、γ)方法(RT)
工業(yè)上常見的無損檢測(cè)的方法之一。指使用電磁波對(duì)金屬工件進(jìn)行檢測(cè)，同X線透視類似。射線穿過材料到達(dá)底片，會(huì)使底片均勻感光;如果遇到裂縫、洞孔以及氣泡和夾渣等缺陷，將會(huì)在底片上顯示出暗影區(qū)來。這種方法能檢測(cè)出缺陷的大小和形狀，還能測(cè)定材料的厚度。 |
